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2025年传感器、检测技术与计算机控制国际会议

时间:2025-05-13

城市:深圳

会议检索:EI; Scopus; IEEE Xplore

研究领域:计算机科学

会议形式:在线会议

聚会议开幕还有:00 00 00 00
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会议简介

2025年传感器、检测技术与计算机控制国际会议SDTCC 2025)将在中国深圳举行。会议旨在展示和交流近年来国内外在传感器、检测技术与计算机控制领域取得的科研成果、研讨前沿科学问题和学术发展动态,对于共享新思想、激发新动能、推动行业研究方法和应用的发展有积极重要的意义。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者,企业界人士及其他相关人员参会交流!

重要信息

会议官网:www.global-meetings.com/sdtcc

大会时间:2025-05-13

大会地点:深圳

截稿日期:2025-04-23

接受/拒稿通知:约投稿后1-2周

会议收录类型:EI; Scopus; IEEE Xplore

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征稿主题

(主题包括但不限于)

传感器、执行器及其应用

多传感器信息融合技术

物理、化学和生物传感器

数字输出传感器

传感器理论、原则、效果设计、标准化

智能传感器和系统

传感器仪表

虚拟仪器传感器接口

公共汽车信号处理

网络信号处理

传感器技术和材料

纳米传感器

微系统

微机测控装置与系统

传感技术与应用

机电信号检测与处理

自动检测与转换技术

传感器与自动检测

控制算法

自适应控制

最优控制

决策系统

鲁棒控制

模糊控制

目标检测

系统建模

控制系统

模式识别与分析

专家系统

智能机器人

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